PicoFemto（皮飞） 透射电镜电学测量样品杆
PicoFemto (皮飞)透射电镜原位电学性能测试样品杆，可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。对单个纳米结构进行操控和电学测量，同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。
蔡司扫描电镜原位解决方案
扫描电镜原位技术已经广泛应用于材料科学研究的各个领域，它可以将材料宏观性能与微观结构联系起来，这对研发高性能新型材料非常有帮助。但电镜原位实验从来都不是一个简单的工作，有的时候甚至还需要一些运气。为了让电镜原位实验变得更加智能高效，蔡司最新推出了扫描
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
蔡司多束扫描电子显微镜
蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM505是专为半导体、生物等样品的大面积高分辨率成像开发的极高通量SEM，可以实现大尺寸样品的纳米级分辨率成像，同时具有高效的成像效率和数据采集速度，自动获取大面积高分辨率图像也更加方便快捷。
Anyty(艾尼提)便携式显微镜3R-MSA580
触摸屏，内置直线，角度，面积，十字线测量功能，所有测量全部通过触摸选点方式完成，每个端点都可支持微移，从而达到准确的测量效果可以保存测量数据图与原始拍摄图像。
S-4800扫描电子显微镜
S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s
